相干显微镜技术提供了跨科学和技术领域的材料的无与伦比的多尺度视图，从结构材料到量子设备，从综合电路到生物细胞。在构造更明亮的来源和高速探测器的驱动下，连贯的X射线显微镜方法（如Ptychography）有望彻底改变纳米级材料的特征。但是，相关的数据和计算需求显着增加意味着，常规方法不再足以从高速相干成像实验实时恢复样品图像。在这里，我们演示了一个工作流程，该工作流利用边缘的人工智能和高性能计算，以实现直接从检测器直接从检测器流出的X射线ptychography数据实时反演。拟议的AI支持的工作流程消除了传统的Ptychography施加的采样约束，从而使用比传统方法所需的数据较少的数据级允许低剂量成像。
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